Эпсилон 0 в чем измеряется
Перейти к содержимому

Эпсилон 0 в чем измеряется

Диэлектрическая проницаемость

Относительная диэлектрическая проницаемость среды ε — безразмерная физическая величина, характеризующая свойства изолирующей (диэлектрической) среды. Связана с эффектом поляризации диэлектриков под действием электрического поля (и с характеризующей этот эффект величиной диэлектрической восприимчивости среды). Величина ε показывает, во сколько раз сила взаимодействия двух электрических зарядов в среде меньше, чем в вакууме. Относительная диэлектрическая проницаемость воздуха и большинства других газов в нормальных условиях близка к единице (в силу их низкой плотности). Для большинства твёрдых или жидких диэлектриков относительная диэлектрическая проницаемость лежит в диапазоне от 2 до 8 (для статического поля). Диэлектрическая постоянная воды в статическом поле достаточно высока — около 80. Велики её значения для веществ с молекулами, обладающими большим электрическим диполем. Относительная диэлектрическая проницаемость сегнетоэлектриков составляет десятки и сотни тысяч.

Относительная диэлектрическая проницаемость вещества εr может быть определена путем сравнения ёмкости тестового конденсатора с данным диэлектриком (Cx) и ёмкости того же конденсатора в вакууме (Co):

Материалы по теме:

  • Токовая петля
  • Точность мультиметра
  • Государственный Реестр средств измерений
  • Калибровка
  • Поверка
  • Как измерить удельное электрическое сопротивление изоляционных материалов с помощью электрометра / измерителя высокого сопротивления Keithley 6517B
  • Измерение тока утечки и сопротивления изоляции
  • Тестирование светодиодов высокой яркости при помощи источника-измерителя Keithley SourceMeter® 2461
  • Тестирование ВАХ солнечной батареи
  • Предварительные измерения ЭМП и испытания на ЭМС перед сертификационными испытаниями

Рекомендуем
4 278,00 руб.
Есть на складе
28 794,00 руб.
Есть на складе
21 906,00 руб.
Есть на складе
9 504,00 руб.
Есть на складе
3 678,00 руб.
Есть на складе
15 894,00 руб.
Есть на складе
Распродажи, скидки, спецпредложения

До 31 декабря 2023 года на складские анализаторы спектра сканирующего типа DSA875-TG (7,5 ГГц) предоставляется скидка 20% от розничной цены.

С нашего склада со скидками 10% можно приобрести прецизионные мультиметры АММ-1221, а также профессиональные мультиметры АММ-1216 и АММ-1205 и мультиметры экономного класса АММ-1201 и АММ-1203.

Осталось всего несколько дней когда можно приобрести универсальные мультиметры Rigol DM3058 и DM3068 со скидками 20%.
Спешите приобрести!

Научная электронная библиотека

При анализе явлений электромагнетизма роль электрической ε0 и магнитной μ0 постоянных является определяющей, о чём свидетельствуют коэффициенты в уравнениях Максвелла — скорость света. Скорость света не является фундаментальной константой вследствие её зависимости от состояния среды. В настоящее время измерены и многократно большие и меньшие её значения. Константы электрическая и магнитная постоянные являются реальными характеристиками среды распространения ДУХ, но объяснение их физического смысла при описании электромагнитных явлений в учебниках физики отсутствует. Они представлены как некие коэффициенты пропорциональности в уравнениях, а реально уникальность этих мировых констант состоит в том, что они являются основой структуры мироздания!

Дж. К. Максвелл обратил внимание, что коэффициенты электрическая и магнитная постоянные с индексом «0», означавшим среду «эфира», в определённой комбинации дают значение скорости света:

с 2 =1/ ε0μ0 = 1/(8,854187817·10 -12 ·12,566370614·10 -7 ) = 8,9875522·10 16 м 2 /с 2 .

Соотношение электрической и магнитной проницаемости со скоростью света легло в основу электродинамики, способствовало развитию теории и практическому обнаружению электромагнитных волн, но физический смысл соотношения был не ясным. Мешало представление о пустом пространстве и фетишизация скорости света в нём. Представление о наличии среды и знаменитая формула Е = mc 2 , дают очевидную трактовку: c 2 = 1/ε0μ0 = Е/m. Энергия, приходящаяся на единицу массы, однозначно определяется свойствами среды — ε0 и μ0 . Это — главная взаимосвязь материи (массы) и среды ДУХ.

Понимая эту связь, не следует её запутывать, извлекать корень квадратный и называть его скоростью света или распространения любого сигнала. Свойства среды определяют рождение массы первочастицы — электрона из энергии: E = = mе/ ε0μ0. Рождение происходит за счёт вихревого вращения среды с частотой ν, которая соответствует энергии 0,511 МэВ, эквивалентной массе покоя электрона:

Такова физическая модель. Но можно ли представить в естествознании частицу, которая непрерывно вращается в пространстве, делая сто миллиардов оборотов за одну миллиардную долю секунды?! Для естествопонимания процессов мы должны вспомнить, что Природа «не знает» понятия времени и придуманных человеком секунд (см. 2.1). Вероятно, и понятие скорости, приемлемое для оценки движения автомобилей и самолётов, теряет смысл в микромире. Вращение сгустка энергии — это только модельное представление. Можно ли в неразрывном вихре выделить точку и следить за её вращением? Нет! В непрерывной, вихревой среде ДУХ нельзя измерить расстояния и нет координатных осей. Электрон не вращается, а, как показано в гл. 3.2, электрон — это единый неразрывный вихрь среды ДУХ в форме сферической стоячей волны диаметром 0,9·10 -16 м, взаимодействующей через поверхность со средой с характеристиками ε0 и μ0.

Рассмотрим каждую из констант ε0 и μ0 . Абсолютная диэлектрическая проницаемость (электрическая постоянная) — ε0 = 8,854188·10 -12 Ф/м является коэффициентом пропорциональности в формуле, связывающей между собой смещение и напряжённость электрического поля [91]. Абсолютная магнитная проницаемость (магнитная постоянная) μ0 = 4π 10 -7 = 12,566 371·10 -7 Гн/м является коэффициентом пропорциональности между магнитной индукцией и напряжённостью магнитного поля [91].

Эти постоянные, отражающие некоторые свойства среды, широко используемые в электродинамике, остаются для изучающих студентов фарадой и генри, делёнными на метр. В константе μ0 коэффициент мог бы обозначать поверхность сферы, у которой квадрат радиуса равен 10 -7 , а радиус равен 3,162·10 -4 , но почему-то с размерностью генри 1/2 ·м -1/2 ? Причина появления таких экзотических размерностей величин кроется в выборе единиц измерения, когда не знают точно, что измеряют.

Размерность константы μ0, легко определить, если из закона Кулона определить размерность заряда — кулон:

Тогда сила тока

Физическую величину μ0 [T 2 L -2 ], оказывается, трудно интерпретировать. Её обратное значение 1/ μ0 — [L 2 T -2 ]. Константа 1/ μ0 = 0,795775·10 6 м 2 /с 2 — аналог скорости в квадрате.

Аналогично определим размерность константы ε0. Фарад — единица электрической ёмкости:

Следовательно, ε0 — безразмерна! Размерность «фарада на метр» должна быть исключена из учебников физики. Обратная величина электрической постоянной 1/ ε0 =1,12941·10 11 является безразмерным коэффициентом, показывающим во сколько раз отличаются сравниваемые значения неких величин. Каких? Какой физический смысл несут константы ε0 и μ0 в отдельности?

Попытаемся разобраться, что скрывается за коэффициентом пропорциональности между электрическим смещением D и напряжённостью электрического поля E: D = ε0·E.

По определению «D — это величина, равная отношению потока электрического смещения ψ = ΣQi (алгебраическая сумма зарядов во внутреннем пространстве замкнутой поверхности), отнесённая к площади этой поверхности S. D = /dS». Почему сумма зарядов названа потоком смещения? Электрическое смещение — это некое поле ощущения зарядов, находящихся внутри объёма, на единице его поверхности. Напряжённость электрического поля E — это «векторная величина, равная отношению силы F, действующей на положительный заряд, помещённый в некоторую точку электрического поля к этому заряду: E = dF/dQ» [91].

С трудом можно представить физический смысл электрического смещения, как некого заряда в неком объёме, разделённого на поверхность этого объёма. Это не характеристика заряда и не сила, действующая от этого заряда на другие, оказавшиеся на этой поверхности. Логично было бы использовать в формулах вместо смещения D именно заряд в неком объёме — Q, а зависимость изменения D, обратно пропорциональную квадрату расстояния, характеризующего изменение площади поверхности, логично ввести в понятие Е — напряжённости электрического поля. Это обозначало бы, что напряжённость поля зависит от заряда и уменьшается с расстоянием. В гл. 3.2 показано, что первичная сила электрического заряда, действующая на радиусе электрона — FZ(Re) ослабляется на длине окружности радиуса λK в 1/ε0 раз, а сила электрического заряда, выраженная на его поверхности FZ (Re), называется в физике «заряд». Это подтверждается размерностью квадратичного заряда: Z = Q 2 = ML 3 /T 2 .

Заряд, как было показано ранее, и как следует из полученного соотношения, должен приниматься именно в квадратичной форме Z = Q 2 по сравнению с его принятым в физике обозначением. В принятых в физике размерностях квадратичный заряд есть энергия, умноженная на объём и делённая на поверхность или сила, умноженная на поверхность. Соотношение F / (Z/S) есть отношение сил.

1/ε0 есть отношение физической силы к электрической силе в определённой точке пространства.

По своему физическому содержанию константа «диэлектрическая проницаемость среды» не характеризует среду распространения волн. Она результат выбора физических понятий, в данном случае,- силы. Физический смысл имеет не абсолютная диэлектрическая проницаемость (электрическая постоянная) — ε0, а обратная ей величина, характеризующая механическую силу действия единичного заряда (квадратичного!) через единицу сферической поверхности вокруг него.

Константа 1/ ε0 характеризует связь заряда, как неотъемлемой части материи, и его физического воздействия в среде ДУХ. Она — коэффициент перехода электрической силы в механическую: Fмех = (1/ ε0) · Fэл !

Физическая безразмерность константы подтверждает, что заряд (квадратичный), отнесённый к единице сферической поверхности соответствует электрической силе. Заряд — это действие! Обратная пропорциональность сил квадрату расстояния, «заложенная» в природные константы, ещё раз подтверждает, что в соответствии с теоремой П. Эренфеста (1917 г.) («в n-мерном пространстве действие силы обратно пропорционально степени от расстояния «n-1», а устойчивое состояние с минимумом энергии возможно при n ≤ 3») пространство среды ДУХ математически может быть представлено только трёхмерным и никаких многомерных пространств не существует в Природе.

Выполненные выше оценки радиуса электрона (см. 3.2.5), как функции электрической постоянной ε0 свидетельствуют, что константа 1/ ε0 — это сила действия электрического заряда, а сущность заряда:

Таким образом, константа 1/ε0 — это характеристика физической силы действия электрического заряда, определяющая не только силы электрического взаимодействия, но и размер первочастицы материи.

Как характеристика среды распространения волн, физический смысл этой постоянной соответствует представлению, что электрическое поле есть «чувство» массы в среде ДУХ — сила действия. Это означает, что масса и заряд элементарной частицы — её неотъемлемые характеристики, а электрическое поле — это сила, «ощущение» массы в нематериальной среде ДУХ.

Электрическая и магнитная постоянные взаимосвязаны. Как показано (гл. 2.2), универсальность вихревого движения среды эфир состоит в переходе вращательного движения в поступательное и наоборот. Магнитное поле — это однонаправленное движение вихрей в среде ДУХ. Электричество и магнетизм — это проявления взаимосвязи ДУХ+материя.

По определению μ0 — «абсолютная магнитная проницаемость — коэффициент пропорциональности между магнитной индукцией В (отношение магнитного потока к площади сечения, через которое проходит этот поток) и напряжённостью магнитного поля — Н (величина, характеризующая магнитное поле, размерность которой определяются по формуле напряжённости поля в центре длинного соленоида при прохождении через него определённого тока).

Выше показано, что размерность μ0 — [T 2 L -2 ], а 1/ μ0 — [L 2 T -2 ]. Константа 1/ μ0 = 0,795775·10 6 м 2 /с 2 — аналог скорости в квадрате. Это энергия, подёлённая на массу, и эту константу следует интерпретировать как физический «след» массы в среде ДУХ. Такое вращательное движение нематериальной среды ДУХ создаёт единица массы — массон. В соответствии с размерностью

физический смысл 1/μ0 -то энергия поля (энергия в среде ДУХ), отнесённая к единице внесённой в него массы. Константа 1/μ0 — усреднённая характеристика среды ДУХ, представляющей суперпозицию волн всех масс Вселенной и выраженная как квадрат скорости безмассовой среды.

Эпсилон 0 в чем измеряется

Электродинамика > Статика > Диэлектрическая проницаемость (ε).

Содержание Величина Наименование
Любая среда уменьшает действие электрического поля.
Относительная диэлектрическая проницаемость (ε) — число, показывающее во сколько раз кулоновская сила в вакууме больше такой же силы в данной среде: ε = Fвак/Fср. Зависит от материала среды.

Формулы, где встречается диэлектрическая проницаемость:

— Кулоновская сила взаимодействия точечных зарядов.

— Напряженность поля точечного заряда.

Измерение диэлектрической проницаемости — необходимость при создании устройств в мм-диапазоне (перевод)

Меня зовут Олеся (Leka_engineer), я инженер-разработчик СВЧ устройств на печатных платах (ПП). Поэтому мне так интересна тема производства печатных плат, подложек для ПП и измерения их эпсилон.

Я уже немного писала про свой опыт измерения диэлектрической проницаемости ламинатов вот тут. Также хочу в этом предисловии отметить работы других авторов:

  • Автор этой статьи изготовил и измерил три вида образцов; два типа резонаторов (кольцевой и в виде шлейфа) и образец для измерения фазовым методом
  • Первоисточник этого перевода — тоже авторства Джона Кунрода из Rogers Corp. В статье как раз описаны методы резонатора и фазовый (с формулами).
  • Автор этой статьи провёл эксперимент и определил эпсилон образцов линий с разной длиной (фазовый метод). Статья интересна тем, что также приводится сравнение результатов эксперимента с электродинамической моделью. И советую заглянуть в раздел списка литературы.

Автор оригинала данного перевода — Джон Кунрод, технический специалист Rogers Corp. В блоге на их сайте и в журнале Microwave Journal много статей про типы линий и про определение эпсилон материала. Также он — автор множества видеороликов на канале Rogers Corp (например вот видео про обзор методов оценки эпсилон). Я часто рекомендую эти видео в своём телеграм канале. Для лучшего понимания перевода, считаю нужным проиллюстрировать его двумя скриншотами из этого видео.

1 График зависимости диэлектрической проницаемости материала от частоты (в общем случае) 2 График зависимости измеренной диэлектрической проницаемости ламината Rogers RO4003C толщиной 0,508 мм при использовании разных методов. Синяя линия - фазовый метод, Две точки FSR на двух частотах в левой части графика. И две точки, определённые с помощью резонаторного кольца.примечание переводчика — FSR

Иллюстрация FSR («целого листа») метода. Скриншот из этого видео.

3 Метод FSR

Измерение диэлектрической проницаемости — необходимость при создании устройств в мм-диапазоне

Диэлектрическая проницаемость (Dk, ε) — важная отправная точка для многих разработчиков ПП, как для определения параметров ламината для последующего изготовления плат, так и при наличии неизвестного материала «на руках» и последующей симуляции дизайна на нём в компьютере. Особенно важно точно знать эпсилон при разработке устройств на более высоких частотах, где длина волны становится меньше, и размеры элементов топологии критически важны. При изготовлении прототипов в мм-диапазоне точность первоначального определения Dk подложки во многом определяет успех. Эпсилон материала определяется измерениями и последующими вычислениями на основе известных параметров материала, тестовой топологии и применённых оснасток.

Не существует идеального метода оценки диэлектрической проницаемости. Именно поэтому, существует множество способов измерения эпсилон. Методы имеют разные уровни сложности и точности и могут показать разные результаты при измерении одного и того же материала. Электрически цепи в мм-диапазоне очень чувствительны, поэтому отклонения Dk подложки приводят к задержкам в процессе разработки. Если эпсилон материала не как в даташите, прототипы цепей на этом материале, должны быть изготовлены в соответствии с максимально точным значением Dk, особенно, если это схема в мм-диапазоне. Разные методы оценки диэлектрической проницаемости могут давать разный результат, поэтому базовое представление о том, как работают разные методики измерения эпсилон, будут полезны при проектировании цепей в миллиметровом диапазоне.

В то время как цепи и их применение «забирается» всё выше по частотному диапазону, разрабатываются новые методы оценки параметров материалов подложек Dk и Df (коэффициент рассеяния). Измерительные техники, определяющие Dk можно разделить на основанные на материале и на цепи (топологии). Первые подразумевают помещение образца в тестовую оснастку, вторые — изготовление печатной платы с топологией, после измерения параметров которой вычисляется Dk. Большинство «материальных» методов используют голый диэлектрик, без слоя меди, методы с печатными платами, естественно, подразумевают наличие проводника.

«Материальные» методы обычно определяют эпсилон в определённой частотной точке (и при условии определённой температуры), а основанные на топологии методы могут быть применены для определения эпсилон на разных частотах в зависимости от типа тестовой цепи. Цепи на основе линий передачи, например микрополосковой или симметричной, могут быть измерены со свипированием по частоте. Цепи на основе резонаторов — на одной частоте (на которой наблюдается резонанс).

Многие методы оценки эпсилон стандартизированы в системе IPC. Например, IPC TM-650 представляет собой целую коллекцию методик характеризации Dk, Df и других важных параметров. Но, несмотря на стандратизацию и чёткое описание методик измерений, разные методики будут «давать» различные значения Dk для одного и того же материала. Знание того, как отличаются разные методы, может помочь разработчикам лучше разбираться в применении материалов, особенно, если их параметры измерены по разным методикам.

Из-за того, что при использовании разных методик, получаются разные значения эпсилон, крупные производители, например такие как Rogers Corporation, указывают в даташитах несколько значений Dk: «process» и «design». В Rogers, первая цифра получена по методике, описанной в стандарте IPC-TM-650 2.5-5.5 , на одной частотной и температурной точке. А «design» значение применимо к довольно широкому частотному диапазону, причём это значение может быть получено комбинацией множество тестов, как основанных на материале, так и на топологии. Для большинства разработчиков именно вторая цифра — нужная, она показывает практическое значение Dk материала в указанном диапазоне частот. Если рабочая частота выше указанного диапазона, например разработка ведётся в мм-диапазоне частот (30-300 ГГц), разработчик может сам провести эксперимент и охарактеризовать материал в нужном себе диапазоне частот. И понимание различия методов и различия результатов этих методов поможет разработчику лучше подготовиться к проведению измерений. Этот перевод сделан Leka_engineer

4 скриншот из даташита на 4000-ю серию Rogers

Сравнение методов оценки Dk

Точность каждого метода зависит от множества факторов, таких как точность калибровки измерительного оборудования (чаще всего ВАЦ), различия в тестовых оснастках и отклонения ширины дорожек и зазоров при изготовлении печатных плат с линиями передачи или резонаторами. Большинство материалов подложек анизотропны, и эпсилон различно в разных направлениях: x (длина), y (ширина) и z (толщина). В то время как методики, определяющие Dk по осям x и y — просто полезны, измерения, позволяющие вычислить Dk по оси z представляют наибольший интерес потому, что поле линии находится как раз между землёй и сигнальным проводником.

Методика симметричной линии, представляющей собой проводник, зажатый между двумя пластинами диэлектрика, описана в стандарте IPC-TM-650 2.5-5.5, и используется в корпорации Rogers для определения диэлектрической проницаемости материалов, также таким образом можно определить Df (оба параметра по оси z). Этот метод довольно точный и имеет хорошую повторяемость, но «даёт» значение эпсилон только на одной точке — 10 ГГц. Методика характеризует голый материал, без проводника. В процессе тестирования материал помещают в специальную оснастку с платой с резонатором (на симметричной линии). Металлические пластины оснастки, которые зажимают образец и резонатор, являются экранами симметричной линии. В целях получения результатов с хорошей повторяемостью, оснастка должна быть собрана без воздушных зазоров, так как воздух с эпсилон 1 понизит эффективную (измеренную) эпсилон конструкции и эпсилон исследуемого материала будет определена неверно.

примечание переводчика и иллюстрация

На рисунке 1 упомянутой выше публикации показан этот метод (только перевод рисунка сделан не совсем корректно на мой взгляд — резонатор не микрополосковый, а на симметричной линии; испытательной установкой принято обычно называть некий стенд, в оригинале это fixture — оснастка).

5 рисунок из публикации-перевода

Оснастки — почти самое главное при измерениях параметров материалов в методах, основанных на материале. Для измерений обычно используют некий резонатор, и, зная толщину образцов, можно определить его параметры. Повторяемость и точность «материальных» методов зависит от качества изготовления тестовой оснастки, в то время как повторяемость и точность основанных на топологии методов зависит от качества (точности) изготовления топологии на плате.

В методах, позволяющих определить эпсилон материала, используется несколько типов резонансных структур, включая (далее дословный перевод) метод «разделённого объёмного резонатора» (SPDR), метод «целого листа» (FSR), метод «разделённого цилиндрического резонатора», которые все описаны как измерительные методики в стандарте IPC-TM-650. Первый метод основан на сравнении результатов измерений «пустого» резонатора, то есть заполненного воздухом, и резонатора с помещённым внутрь образцом материала. Точность этого метода зависит от точности измерения толщины образца и объёмов резонатора. Метод позволяет определить эпсилон в плоскости x-y, но не по оси z. Второй метод предполагает использование целого листа материала с медью, измерения проводятся со свипированием по частоте, при этом определяются стоячие волны (резонансные пики). Лист ламината с медью ведёт себя как волновод с открытыми стенками; при измерениях фиксируются стоячие волны, возникающие в продольной оси листа. Зная размеры листа и измерив резонансные частоты, можно вычислить диэлектрическую проницаемость материала на резонансной частоте. Этот метод хорошо подходит для длинных волн и низких частот, но не точен при определении более тонких цепей (пп: имеется в виду, что погрешность измерения толщины толстого листа материала не так значительна по сравнению с измерением тонкого листа, а как известно, в целях уменьшения потерь на излучения на высоких частотах обычно используют тонкую подложку). Этот перевод выполнен Leka_engineer.

примечание переводчика — иллюстрации

Метод «разделённого объёмного резонатора» проиллюстрирую картинкой из апноута Keysight:

6 метод SPDR

Фото оснастки из апноута:

7 вид оснастки при измерениях методом

Ввод сигнала также может быть реализован по вертикальной оси (картинка из публикации «Microwave and RF methods of contactless mapping of the sheet resistance and the complex permittivity of conductive materials and semiconductors» Jerzy Krupka, Danh Nguyen and Janina Mazierska):

8 другая реализация метода

Интересно, таким образом тоже эпсилон в плоскости x-y измеряется?

В дополнение к рис.3 вот ещё одна иллюстрация метода «целого листа» (источник — презентация Rogers):

9 иллюстрация FSR

Третий метод (разделённого цилиндрического резонатора) состоит в том, что образец материала помещается в центре объёма резонатора цилиндрической формы. Одна половина зафиксирована, а вторая позволяет раздвинуть половинки резонатора, чтоб можно быть помещать образцы разной толщины. В стенке каждой половине цилиндра есть отверстие, куда вставлен кабель с петлёй связи на конце. Таким образом измеряется поле, касательное к плоскости х-у образца, затем вычисляется Dk материала.

примечание переводчика — иллюстрации

На рисунке ниже показана схема установки при измерении параметров материала методом «разделённого цилиндрического резонатора». Источник — апноут Keysight

10 метод разделённого цилиндрического резонатора (схема)

Фото установки в апноуте также приведено. А вот другое фото (источник):

Методы, основанные на топологии также различны по своим применениям и получаемым результатам. Такие методики могут быть основаны на измерении коэффициентов передачи и отражения разных линий передач или структур или на измерении частоты и фазы печатного резонатора. Типы линий передач, используемых в методах оценки эпсилон: микрополосковая, симметричная, копланарная. Типы используемых резонаторных структур: резонатор в виде кольца и полосовые фильтры, построенные на резонаторах.

Высокая точность оценки параметров материала обеспечивается точностью измерений размеров материала и элементов топологии, ширины микрополосковой линии, толщины медного проводника, толщины подложки. Очевидно, точные измерения этих параметров становятся сложно выполнимыми для цепей, рассчитанных на частоту в мм-диапазоне. Вариации толщины материала и шероховатость меди также больше сказываются в мм-диапазоне частот, что приводит к менее точному определению Dk материала. Более гладкие медные проводники формируют более короткие пути тока и значения эпсилон неоднозначно. Такие физические отклонения в цепи также влияют на резонансную частоту печатных резонаторов, где очень важно точное измерение частоты и фазы.

Было изобретено множество методов и способов оценки диэлектрической проницаемости материала. В то время как результаты измерения Dk одного материала одним и тем же методом при повторных тестах могут совпадать, результаты измерений этого же материала различными методами будут отличаться. Проще говоря, разные тестовые топологии и оснастки работают по-разному. Различия в результатах измерений могут быть быть минимизированы только при применении одного и того же метода каждый раз. Но выбранный ранее метод может не обеспечивать получение значения Dk на нужной частоте, особенно часто такое происходит, когда разработчика интересует эпсилон материала в мм-диапазоне. Понимая, как отличаются методы оценки Dk, может и невозможно определить идеальный метод на все случаи жизни, но можно хотя бы выбрать наилучший исходя из дальнейшего применения.

Спасибо за внимание! Следующая статья будет авторская, на тему производства СВЧ-плат в России (апдейт прошлогодней статьи). В моём ВК недавно вышла статья про измерения полосовых фильтров на Wangling.

  • Разработка систем связи
  • Производство и разработка электроники

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *